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SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架
- 產(chǎn)品型號：
- 更新時(shí)間：2023-12-19
- 產(chǎn)品介紹：SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。
- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池 |
SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架
SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。
| 規(guī)格 | SA-Stage-C |
| 尺寸： | Φ150mm×厚10mm |
| 高度： | 垂直可調(diào)高度80mm |
| 材質(zhì)： | 鋁合金 |
| 表面處理： | 亞光發(fā)黑 |
| 適配產(chǎn)品： | QR系列反射光纖 |
| 用途： | 專為反射光纖測量而設(shè)計(jì)，能有效固定光纖探頭，防止因抖動(dòng)等人為因素影響檢測效果. |
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